仪器型号：JXA8230

生产厂家：日本电子（JEOL）

主要部件：电子探针、X射线波谱仪（3通道）、真空喷镀仪

主要技术指标：

检测元素范围：₅B ～₉₂U；

加速电压：0.2～30kV，束流电流范围：10^-12 ～10^-5 A；

图像理想分析率：二次电子像：6nm，背散射电子像：≤ 20nm（15keV）；

分光晶体：TAP、LDE2、LIF、PET，PETH、LIFH；

放大倍率：40×～300,000×。

应用领域：地质科学和材料科学等

分析内容：①分析测试：微区定性分析、半定量分析、定量分析、元素线扫描和面扫描；

②图像观测：二次电子（SEI）图像、成分（COMPO）图像、拓扑（TOPO）图像